透射電子顯微鏡分析

      關(guān)鍵詞：材料微觀組織結(jié)構(gòu)分析，透射電鏡分析，透射電鏡測(cè)試，透射電鏡檢測(cè)，透射電子顯微鏡檢測(cè)，透射電子顯微鏡測(cè)試

  國(guó)標(biāo)（北京）檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司電鏡室，擁有jem-2000fx分析型透射電子顯微鏡，jem-2010高分辨型電子顯微鏡以及jem-1000超高壓透射電子顯微鏡。可為客戶(hù)提供金屬材料、各種粉末、薄膜材料、納米材料的微觀組織結(jié)構(gòu)的綜合分析。在輕金屬結(jié)構(gòu)材料（鋁合金、鎂合金及鈦合金）、薄膜材料、納米材料及磁性樣品的分析上具有豐富的分析經(jīng)驗(yàn)。

國(guó)標(biāo)（北京）檢驗(yàn)認(rèn)證有限公司，是中國(guó)權(quán)威的第三方金屬檢測(cè)機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室通過(guò)iso 17025國(guó)家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可（cnas），中國(guó)計(jì)量認(rèn)證（cma），國(guó)際航空材料認(rèn)證（nadcap），為客戶(hù)提供科學(xué)的產(chǎn)品檢測(cè)、評(píng)價(jià)方案，滿(mǎn)足進(jìn)出口及工程檢測(cè)等各種需求。